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ICP單道掃描光譜儀

簡要描述:

ICP單道掃(sao)描(miao)光(guang)譜儀(yi)(yi)作為一(yi)種大型精密(mi)無機(ji)(ji)分(fen)析(xi)儀(yi)(yi)器,廣泛應用于(yu)稀土、貴金屬、合金材料、電子(zi)產品(pin)、醫(yi)藥衛生、冶金、地質(zhi)、石油、化(hua)工、商檢(jian)、環(huan)保以及釹鐵硼、硅、硅鐵、鎢、鉬等(deng)行業分(fen)析(xi)檢(jian)測(ce)(ce),可(ke)(ke)對待測(ce)(ce)樣品(pin)進行定(ding)性或從超(chao)微量到常量的(de)定(ding)量分(fen)析(xi)。是集光(guang)、機(ji)(ji)、電、計算機(ji)(ji)、分(fen)析(xi)技(ji)術于(yu)一(yi)體(ti)的(de)技(ji)術產品(pin),具有測(ce)(ce)試速(su)度快、測(ce)(ce)量范圍寬、分(fen)析(xi)結果準確可(ke)(ke)靠等(deng)特(te)點。

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ICP單道掃描光譜儀

北京華科易通分析儀器有限公司,是電感耦合等離子體發射光譜儀的專業制造廠商。它是集科研、生產、銷售、技術服務于一體的高科技企業。HK型電感耦合等離子體發射光譜儀,ICP單道掃描光譜儀是我(wo)公司(si)在(zai)現有技術的基礎(chu)上(shang),吸收技術成果研制開發的產(chan)品。

ICP單道掃描光譜儀(ICP-AES/OES),主要用(yong)(yong)于微量/痕量元(yuan)素的(de)分析,可(ke)分析的(de)元(yuan)素為(wei)大多數的(de)金(jin)屬和(he)硅(gui)(gui),磷等少量的(de)非金(jin)屬,共72種。廣泛應用(yong)(yong)于稀土、貴金(jin)屬、合金(jin)材料、電(dian)子產品、醫藥衛生、冶金(jin)、地質、石(shi)油、化(hua)工(gong)、商檢、環(huan)保以及釹(nv)鐵(tie)硼、硅(gui)(gui)、硅(gui)(gui)鐵(tie)、鎢、鉬等行業分析檢測,可(ke)對待測樣(yang)品進行定(ding)性或從超微量到常量的(de)定(ding)量分析。

一、整機主(zhu)要性能(neng)參數:

1、波長范圍:190~500nm(3600L/mm光(guang)柵)或190~800nm(2400L/mm光(guang)柵);

2、分(fen)辨率: 0.006nm(3600L/mm光柵)或0.01nm(2400L/mm光柵);

3、波長示值(zhi)誤差和重復(fu)性(xing):波長示值(zhi)誤差≤0.02nm,重復(fu)性(xing)≤0.003nm;

4、掃(sao)描步距:0.0004nm;

5、重復性:RSD≤1.0%;

6、穩(wen)定性(xing):RSD≤1.5%;

7、檢出限:ppb級;

8、分析元素(su)范圍:70余種(zhong)金屬(shu)與非金屬(shu)元素(su);

9、線性范圍:7個數量級以(yi)上(shang),且自吸(xi)效應極低;

10、分(fen)析速度:每分(fen)鐘掃描zui快達(da)25個元素(su)以上;

11、等級(ji)證書:國家計量(liang)器具型式許可(ke)A級(ji)(且遠優于(yu)A級(ji));

12、必須有生產許可證:且規格要求滿足,測量范圍:190-500nm;

13 規格大小:長寬高:1.5mX0.60mX1.2m  立式儀(yi)器方便推挪,免裝試驗臺*;

14 配智能冷卻循環(huan)水箱(YT-1800);

15 配電腦聯想;

16 配惠普激光打印機。

二、各(ge)部(bu)件詳細參數(shu):

射頻發生器(RF)

(1)電路類型:電感(gan)反饋(kui)自激式振蕩電路、同軸電纜輸(shu)出、匹配調(diao)諧、取功率反饋(kui)信號,進行閉環自動控制;

(2)工作頻率(lv):40.68MHz±0.05%;

(3)頻率穩定性(xing):≤0.05%;

(4)輸出(chu)功率:800~1200W;

分光器

(1)光路:Czerny-Turner;

(2)焦(jiao)距(ju):1000mm;

(3)光柵(zha)規(gui)格:離子刻蝕(shi)全(quan)息光柵(zha);

(4)分光器恒溫裝(zhuang)置:26℃±1℃。

測光裝置

(1)光(guang)電(dian)倍增管規格:R212UH或(huo)R928;

(2)測(ce)光方式:單、多元素順序測(ce)量。

操作軟件:

(1)操作系(xi)統(tong):Windows XP 操作平臺(tai);

(2)測定波長數:任意選擇;

(3)分析速度:每分鐘zui快25個元(yuan)素(su)以上(shang);

(4)數據庫:譜線庫11萬條(tiao)以上;

(5)多窗口:在(zai)測(ce)量完一次結果(guo)后(hou)可(ke)以在(zai)顯(xian)示窗口保留上次結果(guo)同時(shi)、測(ce)量下一樣(yang)品;

(6)標準加(jia)入法:軟(ruan)件(jian)要有標準加(jia)入法,以(yi)便在不同條件(jian)和應用(yong)中下使用(yong);

(7)分(fen)析模式(shi)(shi):軟件默認*分(fen)析模式(shi)(shi),擁有儀(yi)器(qi)診斷(duan)、譜圖(tu)分(fen)析及(ji)幾種測量方式(shi)(shi)和幾種積(ji)分(fen)模式(shi)(shi),單位(wei)任選等多種功能;

(8)歷史(shi)數(shu)(shu)據庫:在歷史(shi)數(shu)(shu)據庫中,可(ke)以同時可(ke)選擇性地打印想要打印的(de)批(pi)次(ci)分(fen)析結(jie)果(guo);

(9)數據(ju)輸出:軟件支持激光(guang)打(da)印機打(da)印分(fen)析(xi)結果;

(10)語言:可(ke)中英(ying)文雙語;

(11)有公司自(zi)己LOGO。

關于我們

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備案號: 技術支持:化工儀器網

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