高分辨率單道掃描光譜儀在稀土樣品中的應用

     稀土在工業和高科技(ji)領域具有重(zhong)要意(yi)義。隨(sui)著(zhu)稀土工業的發展, 對(dui)稀土分析的要求也愈(yu)來愈(yu)高(gao)。感耦等離子(zi)體原子(zi)發射光譜(pu)法(fa)(ICP-AES)在稀土分(fen)析中得到廣泛應用。但是由于稀(xi)土譜線(xian)極為豐富, 因(yin)此光(guang)譜干擾給稀土分(fen)析帶來(lai)很(hen)大困難, 尤其是在高純(chun)稀土的(de)痕(hen)量分析中(zhong)其光譜干擾更(geng)為嚴(yan)重。從(cong)大量的有(you)關(guan)稀土分(fen)析文(wen)獻看出, 盡管已有多(duo)種普(pu)遍使(shi)用的(de)發射光譜(pu)波長表和譜(pu)圖可(ke)供參(can)但仍然需要進行稀土元素譜(pu)線選擇(ze)、干擾調查等大量(liang)的實(shi)驗工作(zuo)。

     順序(xu)掃描式光(guang)譜儀具有任意選(xuan)擇譜線的優點, 與(yu)高分辨率的分光系統配合, 特別適合光譜復雜的(de)稀土樣品分析, 但分析線必須精心選擇, 盡量(liang)避免光譜干擾又保(bao)證(zheng)足夠的靈

敏度。所以提供ICP-AES 對稀土元素靈敏線(xian)檢測能力(li)以及集成光(guang)譜干(gan)擾方(fang)面的(de)數據具有實際意義(yi)。

     高(gao)分辨率(lv)光譜儀由于(yu)分辨率(lv)高(gao)使分析線不受干擾(rao)或干擾(rao)程度減少,而且可以分(fen)辨出(chu)許多稀土干擾線。顯然(ran), 如(ru)果(guo)只用已有波長(chang)表(biao)作參考(kao)的話, 有些明(ming)顯的干擾線(xian)就可(ke)能會被遺漏

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